特點

1. 設備原產地:日本
2. 針對產品中金屬檢測之X射線螢光分析儀，配備CCD鏡頭。
3. 多功能應用包含元素定性分析、電鍍膜厚測定、合金成分與型號判定。

應用

1. 測定元素:Al鋁(13)~U鈾(92)。
2. 樣品型態:固體、液體或粉末皆可。
3. 膜厚測定:金(Au)、銀(Ag) 、鈀(Pd) 、錫(Sn) 、鉻(Cr) 、鎳(Ni) 、鋅(Zn) 、銅(Cu)。
4. 歐盟RoHS及其他有害物質檢測。